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Ophir® BeamPeek System - Strahlanalyse und Leistungsmessung
Description
Das kompakte Ophir® BeamPeek Messgerät kombiniert Strahlprofilanalyse- und Leistungsmessung für additive Fertigungsanlagen. In nur drei Sekunden liefert das BeamPeek System Strahlprofil, Fokusanalyse und Laserleistung. Anstelle einer Wasser- oder Lüfterkühlung nutzt das System ein zum Patent angemeldetes Kühlkonzept basierend auf austauschbaren Kühleinschüben. Ausfallzeiten zwischen Messungen werden damit vermieden.
Das BeamPeek System eignet sich ideal für Wartungs- und Servicearbeiten von Pulverbett-Anlagen bei Selektiven Laserschmelzen. Aufgrund der robusten Bauweise und dem bewussten Verzicht auf zusätzliche Kühlsubstanzen oder Luftkühlung sind keine weiteren Anschlüsse erforderlich, und die Baukammer muss vor der Messung des Laserstrahls nicht gereinigt werden.
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